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SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的区别
如题所述
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推荐答案 2012-04-02
xrd是x射线衍射，可以分析物相，SEM是扫描电镜，主要是观察显微组织，TEM是透射电镜，主要观察超限微结构。AES是指能谱，主要分析浓度分布。STM扫描隧道显微镜，也是观察超微结构的。AFM是原子力显微镜，主要是观察表面形貌用的-----回答的不是很全。
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其他回答
第1个回答 2012-04-12
知道这么多没有用，用仪器的材料学博士毕业也不见得都掌握，卖仪器的精通一个就OK了。
相似回答
石墨烯(Graphene)常见的表征方法
答：
SEM
（扫描电子显微镜）为我们揭示了石墨烯及其复合粉末的微观结构，呈现出细腻的纹理和形态特征，展现其精细的二维特性。2.
TEM
- 薄层与双层的见证者 透射电子显微镜（TEM）则捕捉到石墨烯的薄层结构，以及SEAD（单层电子衍射分析）分布，验证了其单原子层的非凡特性，揭示了双层结构的神秘面纱。3.
AFM
...
SEM
和
TEM的区别
是什么?
答：
一、性质不同
1、SEM：根据用户使用搜索引擎的方式利用用户检索信息的机会尽可能将营销信息传递给目标用户。2、TEM：把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。二、
原理不同
1、TEM （1）吸收像：当电子被发射到高质量和高密度的样品时，主...
TEM,
EDS
,SEM,
FE-
SEM,STM,AFM,XRD,
XPS,FT-IR,UV-VISQ全称和中文名称是什...
答：
TEM
:Transmission Electron Microscopy 透射电镜 EDS:能量弥散X射线谱（Energy-dispersive X-ray spectroscopy
SEM
:scanning electron microscope扫描电子显微镜 FE-SEM:Field-Emission Scanning Electron Microscope场发射扫描电子显微镜
STM
:scanning tunneling microscope扫描隧道显微镜
AFM
：Atomic force microscopy...
sem
和
tem的区别
答：
sem
和
tem的区别
如下：1、结构差异 二者之间结构差异主要体现在样品在电子束光路中的位置不同。透射电镜（
TEM
）的样品在电子束中间，电子源在样品上方发射电子，经过聚光镜，然后穿透样品后，有后续的电磁透镜继续放大电子光束，最后投影在荧光屏幕上。扫描电镜（
SEM
）的样品在电子束末端，电子源在样品上方...
SEM
和
TEM区别
是什么?
答：
区别
：
SEM的
样品中被激发出来的二次电子和背散射电子被收集而成像. TEM可以表征样品的质厚衬度，也可以表征样品的内部晶格结构。
TEM的
分辨率比SEM要高一些。SEM样品要求不算严苛，而TEM样品观察的部分必须减薄到100nm厚度以下，一般做成直径3mm的片，然后去做离子减薄，或双喷（或者有厚度为20~40μm或者...
【收藏】常见实验仪器原理动图及其机理解析
答：
扫描电镜
SEM
（二次电子和背散射，描绘表面纹理</），原子力显微镜
AFM
（触觉探索，捕捉表面形貌的毫微变化</）
，STM
（三维形貌的微观世界</）则呈现微观的精致细节。原子吸收光谱AAS（原子化吸收，鉴定元素的存在</），犹如光谱的调色板；电感耦合高频等离子体ICP（高温分解与特征谱线的舞蹈</），精确测定...
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