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背散射电子像衬度的特点
二次电子是怎样产生的?其
特征
是?二次
电子的像衬度
取决于什么因素_百 ...
答:
背散射电子像的衬度要比二次电子像的衬度大
,二次电子一般用于形貌分析,背散射电子一般用于区别不同的相.二次电子像:1)
凸出的尖棱
,小粒子以及比较陡的斜面处二次电子产额较多,在荧光屏上这部分的亮度较大.2)平面上的二次电子产额较小,亮度较低.3)在深的凹槽底部尽管能产生较多二次电子,使其...
二次电子像的衬度和
背散射电子像的衬度
有何
特点
答:
背散射电子
图像主要反映样品表面一定厚度范围内密度反差(和平均原子序数有关,因此也称作原子序数反差或者成分反差),由于背散射电子产额也与表面几何形貌有一定函数关系,因此页有一定程度的形貌反差,但以平均原子序数反差为主。由于背散射电子出射深度和作用区的大小有关,因此一般作用区的尺寸相比电子束斑...
二次电子显微镜和
背散射电子
显微镜的区别是什么?
答:
背散射电子像则具有较低的分辨率,
其主要特点是背散射电子产额随原子序数增大而明显增加
,因此可以用来观察样品表面不同成分分布情况,如有机无机混合物、合金等。背散射电子由于能量较高,穿透能力较强,能够从样品中较深的区域逸出,可以提供一些深度信息。但是,背散射电子像的衬度较大,会掩盖一些细节信...
二次电子和
背散射电子
成像的区别都
有哪些
答:
背散射电子像具有分辩率低、背散射电子检测效率低,衬度小的特点
,主要用于反映原子序数衬度。
二次电子像和
背散射电子像有什么
不同?
答:
,a大的面发射的二次电子多。
3、特征不同:二次电子像主要是反映样品表面10nm左右的形貌特征
,像的衬度是形貌衬度,衬度的形成主要取于样品表面相对于入射电子束的倾角。电子照射到待测样品的过程中,样品能发射一部分电子,背散射电子探头就会检测到这些电子,从而产生相应的电信号。
X射线荧光光谱分析
有哪些特征
信息?
答:
3)吸收电子:其衬度恰好和SE或BE信号调制图像衬度相反;与
背散射电子的衬度
互补。 吸收电子能产生原子序数衬度,即可用来进行定性的微区成分分析.4)透射电子:透射电子信号由微区的厚度、成分和晶体结构决定.可进行微区成分分析。5)
特征
X射线: 用特征值进行成分分析,来自样品较深的区域 6)俄歇电子:...
背散射电子的
相关介绍
答:
特别是笔石复杂的始端发育
特征
,结果验证了Psigraptus jacksoni的二分岔式和Rhabdinopora flabelliformis parabola的四分岔式原始分枝的观点,显示它们都具有最原始的等。
背散射电子
成像的
衬度
是由于原子序数的不同引起的,所以背散射电子一般用于区别不同的相,用来看金相试样的不同区。
在
电子
显微技术领域,当电子束照射测试样品时,会产生哪些物理信号?同时...
答:
(1)
背散射电子的特征
:1)弹性背散射电子远比非弹性背散射电子所占的份额多;2)能量高,例如弹性背散射,能量达数千至数万eV;)背散射电子束来自样品表面几百nm深度范围 ;4)其产额随原子序数增大而增多 ;5)用作形貌分析、成分分析(原子序数
衬度
)以及结构分析。(2)二次电子的特征 1)二次...
为什么不常用
背散射电子
进行形貌分析
答:
因为
背散射电子
进行原子序数形貌表征,但它要反映成分衬度,就分析不到位,只是兼有形貌衬度,一般我们都是用BSE图像来进行通道
衬度的
观察。对于它的图像来说,具有更多的形貌细节。电子射入试样后,受到原子的弹性和非弹性散射,有一部分电子的总散射角大于90°,重新从试样表面逸出,称为背散射电子,又...
二次电子像和
背散射电子像
在显示表面形貌
衬度
时有何相同与不同之处...
答:
二次
电子
主要显示形貌
衬度
,
背散射
同时还可以表现成分衬度,但形貌衬度表现的不如二次电子.背向电子源的不能被接收,所以分辨能力稍差
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