陶瓷坯体内应力有什么测试方法?

另外,我还想问一下x射线衍射分析,透射电镜显微分析,扫描电镜显微分析,电子探针显微分析,光电子能谱分析,红外吸收和拉曼散射这些材料检测方法都具体检测什么内容?对试样有何要求?怎样区分一种检测方法的好与坏?

你可以搜索一下残余应力测量方法,X射线法、磁性法和超声法能无损测定残余应力;XRD衍射是测定物相的,(比如分辨氧化铝是阿尔法相,贝塔相还是伽马相),一般测量精度较差,大于5%以上可以分辨,也可以进行粗略的半定量分析;
透射电镜TEM观察的样品是薄样品(厚度约200um),有成像模式和衍射模式两种工作方式。可配备EDS和EELS(电子能量损失谱),用于分析微区形貌、成分、晶体结构、晶体缺陷等;
扫描电镜和电子探针一般做形貌分析,分背散射和二次电子两种模式,背散射可以根据致密材料的明暗程度分辨不同的相,二次电子景深较高,成像较清晰,可以做粉体、多孔材料和致密材料的形貌分析;电子探针即EPMA(电子探针显微分析),最初的目的是以电子束为探测源来分析样品中微区的化学成分,一般配备波谱仪。而扫描电镜SEM,其最初目的是为了观察样品表面形貌,一般配备能谱仪。现在,电子探针上也可配备能谱仪,扫描电镜上也可配备波谱仪,EPMA和SEM并没有本质上的区别;
能谱仪和SEM,EPMA配备在一起,用于选定显微区域的成分分析。
红外光谱分析可用于研究分子的结构和化学键,也可以作为表征和鉴别化学物种的方法,有机领域用的多;
拉曼光谱的原理是拉曼散射效应,对与入射光频率不同的散射光谱进行分析以得到分子振动、转动方面信息,从而可以鉴别物质,分析物质的性质。
具体的请查阅相关资料
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第1个回答  2011-04-19
测固体材料内部的残余应力,目前有一种方法比较合适,超声波扫描显微镜,我这儿有资料,有实验室,可以测试样品,你应该有用。
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