光电测径仪的三种检测原理是哪三种?

如题所述

1、单测头测量原理

这是一种被人广为熟知的一种测量原理,网上搜光电测量原理,也大都是这一种。

光电测量产品采用物方远心光路系统和CCD成像法进行非接触尺寸检测。其核心部件为远心光电测头,简称“光电测头”。每组测头由发射镜头和接收镜头组成。发射镜头内点光源发出的光穿过发射透镜后形成平行光视场。视场内的平行光再由接收透镜聚焦,在CCD芯片上成像。当被测物通过视场时,被测物遮挡的部位在CCD芯片上显示为无光的阴影。通过CCD芯片光电转换和相应电路系统的数字化处理,即可通过阴影的宽度L计算出被测物的直径D。

2、双测头测量原理

双测头测量原理是在单测头测量原理的基础上衍伸出来的,双测头由两组测头构成,两组测头以净间距B平行设置。当被测物通过2束平行光视场时,将在两个接收镜头的CCD芯片上分别形成宽度为L1、L2的阴影。经过电路系统处理可得出L1、L2对应的尺寸A1、A2,A1、A2再加上B即可得出被测物的尺寸D。

这种测量方式是对大直径轧材进行检测的,同时可定制成间距可调双测头,即两组测头的间距可调,这样可对多规格大直径的轧材进行检测,随时调整测量范围,完成生产中的所有规格的轧材检测。

3、广角光电测头

广角光电测头简称广角测头,是利用光电测头的CCD采集电路配合广角镜头构成的大视角光电测头。与广角测头配合使用的光源为LED条形光源,光源的长度根据测头的视野角度和距离确定。广角测头的优点是视野范围大,可以测量比镜头口径大的物体。由于广角测头成像时存在成像大小随物距变化而变化的现象,所以利用广角测头测量需要进行物距修正。

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