表面粗糙度的常用测量方法有哪几种?介绍如下：
1、比较法
比较法测量简便，使用于车间现场测量，常用于中等或较粗糙表面的测量。方法是将被测量表面与标有一定数值的粗糙度样板比较来确定被测表面粗糙度数值的方法。比较时可以采用的方法:Ra>1.6μm时用目测，Ra1.6~Ra0.4μm时用放大镜，Ra<0.4μm时用比较显微镜。
比较时要求样板的加工方法，加工纹理，加工方向，材料与被测零件表面相同。
2、触针法
利用针尖曲率半径为2微米左右的金刚石触针沿被测表面缓慢滑行，金刚石触针的上下位移量由电学式长度传感器转换为电信号，经放大、滤波、计算后由显示仪表指示出表面粗糙度数值，也可用记录器记录被测截面轮廓曲线。
一般将仅能显示表面粗糙度数值的测量工具称为表面粗糙度测量仪，同时能记录表面轮廓曲线的称为表面粗糙度轮廓仪。这两种测量工具都有电子计算电路或电子计算机，它能自动计算出轮廓算术平均偏差Ra，微观不平度十点高度Rz，轮廓最大高度Ry和其他多种评定参数，测量效率高，适用于测量Ra为0.025～6.3微米的表面粗糙度。
3、光切法
双管显微镜测量表面粗糙度，可用作Ry与Rz参数评定，测量范围0.5~50。
4、干涉法
利用光波干涉原理(见平晶、激光测长技术)将被测表面的形状误差以干涉条纹图形显示出来，并利用放大倍数高（可达500倍）的显微镜将这些干涉条纹的微观部分放大后进行测量，以得出被测表面粗糙度。应用此法的表面粗糙度测量工具称为干涉显微镜。这种方法适用于测量Rz和Ry为0.025～0.8微米的表面粗糙度。
表面粗糙度(surfaceroughness)是指加工表面具有的较小间距和微小峰谷的不平度。其两波峰或两波谷之间的距离（波距）很小（在1mm以下），它属于微观几何形状误差。表面粗糙度越小，则表面越光滑。
表面粗糙度一般是由所采用的加工方法和其他因素所形成的，例如加工过程中刀具与零件表面间的摩擦、切屑分离时表面层金属的塑性变形以及工艺系统中的高频振动等。由于加工方法和工件材料的不同，被加工表面留下痕迹的深浅、疏密、形状和纹理都有差别。
粗糙度仪有很多种，具体选择要根据自己工件的尺寸大小、材质、粗糙度值来确定。
一般来说粗糙度仪分为接触式和非接触式两种，接触式又有台式和手持式两种，接触式轮廓仪在机械制造行业应用最常见；非接触式主要是白光干涉仪,白光干涉仪精度最高，可以达到0.1纳米，主要用于超精密表面粗糙度测量，在半导体行业、3C行业、光学以及高等院校应用较多。
现在的粗糙度仪都是自动测量的，操作起来比较简单，具体步骤参考厂家说明书。
下面可以给你讲一下SuperView W1光学3D白光干涉仪粗糙度分析操作步骤：
将样品放置在夹具上，确保样品状态稳定；
将夹具放置在载物台上；
检查电机连接和环境噪声，确认仪器状态；
使用操纵杆调节三轴位置，将样品移到镜头下方并找到样品表面干涉条纹；
完成扫描设置和命名等操作；
点击开始测量（进入3D视图窗口旋转调整观察一会）；
进入数据处理界面，点击“去除外形”，采用默认参数，点击应用获取样品表面粗糙度轮廓；
进入分析工具模块，点击参数分析，直接获取面粗糙度数据，点击右侧参数标准可更换参数标准，增删参数类型；
如果想获取线粗糙度数据，则需提取剖面线；
进入数据处理界面，点击“提取剖面”图标，选择合适方向剖面线进行剖面轮廓提取；
进入分析工具界面，点击“参数分析”图标，点击右侧参数标准，勾选所需线粗糙度相关参数，即可获取线粗糙度Ra数据。
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