模拟IC设计中的失配(二):失配对电路性能的影响与失调电压的计算

如题所述

深入剖析失配对电路性能的隐形挑战:失调电压的探索


在模拟IC设计的精密世界中,失配如同隐形的电流,悄然影响着电路的卓越性能。它对差分放大器,尤其是BJT和MOS放大器的性能影响显著,特别是共模噪声的抑制和线性度的保持。失调电压,这个看似微小的参数,却决定了信号的精确度,比如仪表放大器对等效输入失调电压的苛刻要求。


失配的魔咒,分为系统失调和随机失调两面。单端放大器的输出,以电压差定义,虽然容易受到系统失调的侵扰,但全差分放大器则以零失调的特性脱颖而出。系统误差,源于结构失配,如电流镜中的VDS不等,可通过精心设计来减少;而随机误差,由制造过程的随机性造成,难以完全消除。


基准电路的传导方式,对误差控制至关重要。电压传导方式尽管简洁,但可能引入系统误差;相反,电流传导方式虽然成本较高,但能更有效地抑制误差。在选择策略时,我们需要权衡成本与误差控制的平衡。


失调电压的分类和分析,不仅仅是理论探讨,而是电路设计的实战指南。例如,两级CMOS放大器的优化,即使在理想对称匹配下,仍需关注宽长比和输出电压的设定,以维持电路的稳定性。MOS放大器的失调,如阈值电压失配ΔVTH,影响着输入失调电压,通过版图优化可以减小这种失配影响。


在设计中,不仅要考虑输入管的过驱动电压Vov,以降低失调,还要兼顾频率特性和晶体管的本征频率fT。在追求大增益和宽输出的性能时,我们必须巧妙地平衡晶体管尺寸与频率响应。比如,电流镜失配的处理,可通过偏微分法进行,源降阻技术能有效减小电阻失配的影响。


失调电压的计算和理解,是电路设计中一个微妙而关键的环节。它影响着电路的性能指标,如共模抑制比CMRR、电源抑制比PSRR,以及线性度。单端输出的Miller放大器失调分析中,系统失调与随机失调的差异,揭示了失配的复杂性。


本文的深入探讨,旨在为设计者提供实用的工具和策略,以应对失配带来的挑战。在追求电路的卓越性能时,失配不再是一个无法逾越的障碍,而是一个可以被精准管理的变量。最后,若需进一步了解,可通过参考文献和作者的联系方式寻求更多专业知识和帮助。

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