高烧所导致的脑损伤是由于中枢神经系统感染所引起的，主要是由于脑炎或脑膜炎等造成的，通过CT一般是可以进行诊断的，但更主要的检查是要通过脑脊液的常规检查等。
大脑因发烧而受损的情况在医学上并非直接由发烧本身导致，而是可能由引起发烧的疾病或感染间接导致。当提到“大脑被发烧烧坏了”，这通常指的是由于高热或其他因素导致的脑部损伤或功能障碍。
关于脑CT（计算机断层扫描）是否能检测出这种损伤，我们可以从以下几个方面进行分析：
脑CT的原理：
脑CT是一种无创的影像学检查方法，通过X射线和计算机技术生成脑部的断层图像，从而观察脑部的结构和病变。
脑CT的检测范围：
脑CT对于脑部的大部分结构性病变，如脑出血、脑梗死、脑肿瘤、脑水肿等，都有较好的检测效果。
然而，对于某些功能性病变或细微的神经元损伤，脑CT可能无法直接显示。
大脑因发烧受损的情况：
如果发烧是由感染或其他疾病引起，并导致了脑部炎症、水肿或更严重的损伤（如脑炎、脑膜炎等），脑CT可能会显示相应的异常。
但如果损伤是微观的，如神经元功能的改变或轻微的炎症反应，脑CT可能无法直接显示。
医生的指导：
如果怀疑大脑因发烧而受损，除了脑CT外，医生还可能会考虑其他检查方法，如脑电图（EEG）、磁共振成像（MRI）等，以更全面地评估脑部情况。
在进行任何检查前，医生会详细了解患者的病史、症状、体征等信息，并综合考虑选择合适的检查方法。
如果脑CT结果显示异常，医生会根据具体情况制定相应的治疗方案。如果脑CT结果正常但患者症状持续存在，医生可能会进一步评估或建议其他检查。
总结：脑CT可以作为一种有效的工具来检测大脑因发烧而可能导致的结构性病变，但对于某些功能性或微观的损伤可能无法直接显示。医生会根据患者的具体情况选择合适的检查方法，并综合评估结果来制定治疗方案。