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背散射电子特点
扫描
电子
显微镜
答:
扫描电子显微镜 扫描电子显微镜,简称扫描电镜,英文名为Scanning Electron Microscope,缩写为SEM,是利用高能量的电子束在固体样品表面扫描,激发出二次电子、
背散射电子
、X射线等物理信号,从而获得样品表面图像及测定元素成分的一种电子光学仪器。扫描电镜,按其功能划分,由电子光学系统、信号检测和放大系统...
扫描
电子
显微镜
答:
扫描电子显微镜,简称扫描电镜,英文名为Scanning Electron Microscope,缩写为SEM,是利用高能量的电子束在固体样品表面扫描,激发出二次电子、
背散射电子
、X射线等物理信号,从而获得样品表面图像及测定元素成分的一种电子光学仪器。扫描电镜,按其功能划分,由电子光学系统、信号检测和放大系统、扫描系统、图像...
扫描电镜
答:
二、高能电子束与样品的相互作用 并从样品中激发出各种信息。对于宝石工作者,最常用的是二次电子、
背散射电子
和特征X射线。上述信息产生的机理各异,采用不同的检测器,选择性地接收某一信息就能对样品进行成分分析(特征X射线)或形貌观察(二次电子和背散射电子)。这些信息主要有以下的特征:1.二次电子...
什么是扫描电镜
背散射
模式
答:
电子
束流轰击到试样上,会产生电子跃迁,产生特征谱线,
背散射
探头接收这些信号,还原成图像后,就是背散射相,一般扫描电镜标配二次电子探头及背散射探头,二次电子相为形貌相。
扫描电镜性能参数
答:
作用体积涉及电子束与样品的交互深度。不同类型的信号对应的作用体积厚度不同:- 欧革电子:0.5至2纳米。- 次级电子:5λ,对导体,λ约为1纳米;对绝缘体,λ则为10纳米。-
背散射电子
:比次级电子深10倍。- 特征X射线:在微米级别。- X射线连续谱:略大于特征X射线,同样在微米级别。通过这些...
SEM的放大率、作用体积、工作距离有什么关系?
答:
次级电子和
背散射电子
可以用于成象,但后者不如前者,所以通常使用次级电子。6、表面分析:欧革电子、特征X射线、背散射电子的产生过程均与样品原子性质有关,所以可以用于成分分析。但由于电子束只能穿透样品表面很浅的一层(参见作用体积),所以只能用于表面分析。表面分析以特征X射线分析最常用,所用到...
环境扫描的三种主要模式
答:
必须选择适当的参数才能使分辨率的降低保持在最小的限度。不同的探测器应有不同的工作参数。环境扫描电子显微镜主要
特点
(以FEI Quanta为例)1、FEI ESEM(环境扫描电镜)技术,可在高真空、低真空和环境真空条件下对各种样品进行观察和分析。2、所有真空条件下的二次电子、
背散射电子
观察和微观分析。3、先进...
电子
显微镜有哪些参数?
答:
次级电子和
背散射电子
可以用于成象,但后者不如前者,所以通常使用次级电子。6、表面分析:欧革电子、特征X射线、背散射电子的产生过程均与样品原子性质有关,所以可以用于成分分析。但由于电子束只能穿透样品表面很浅的一层(参见作用体积),所以只能用于表面分析。表面分析以特征X射线分析最常用,所用到...
完全弄懂扫描
电子
显微分析(SEM)
答:
电子枪是SEM的灵魂,它通过高电压产生电子束。目前,常用的热阴极电子枪如钨丝,成本低廉,对真空度要求不高,但发射效率低,聚焦效果受限。高等级设备则采用LaB6或场发射枪,提供更高分辨率,但对真空度要求极高。背后的科学原理与测试方式SEM通过电子束激发样品,收集二次电子或
背散射电子
,经过信号处理...
为什么扫描电镜从低到高不需要聚焦
答:
在许多时候,孔径光阑会结合透镜一起控制电子束大小。这些 SEM 的主要部件如图1 所示。扫描电镜 SEM 都产生了哪些电子?电子与样品的相互作用会产生不同种类的电子、光子或辐射。对于扫描电镜 SEM 来说,用于成像的两类电子分别是
背散射电子
(BSE) 和二次电子 (SE)。背散射电子来自于入射电子束,这些...
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