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x射线谱图分析注意事项
XRD 具体中文名称?
答:
X射线
衍射
布拉格方程的布拉格方程的导出:
答:
设一单色波(任何种类),进入一组对齐的平面晶格点,其平面间距为d,入射角为:波被晶格点A反射后会沿AC'行进,而没有被反射的波则沿AB继续行进,被晶格点B反射后路径为BC。AC'与BC间存在路径差,表达式为:只有在路径差等于波长的整数倍时,这两股分开的波,在到达某一点时,会是同相位的,...
离子晶体的密度该怎么算?
答:
探测器的作用是将
X射线
光子能量转化为电能,常用的有盖格计数管、正比计数管、闪烁计数管、半导体探测器等。记录单元由放大器、脉冲幅度
分析
器、显示部分组成。通过定标器的脉冲分析信号可以直接输入计算机,进行联机处理而得到被测元素的含量。X射线荧光能
谱
仪没有复杂的分光系统,结构简单。X射线激发源可用...
扫描电子显微镜如何用于纳米尺寸材料的研究和铁电畴的观测?
答:
组合
分析
功能SEM的组合分析功能日益强大,如
X射线
能
谱
仪用于元素定性和定量分析,电子背散射系统用于晶体研究。随着技术进步,还出现了热台、冷台和拉伸台系统,用于观察材料在不同条件下的结构变化,为新材料和新工艺的研发提供了重要支持。成像与表面分析SEM通过次级电子和背散射电子成像,后者虽然不如前者...
离子晶体的密度该怎么算?
答:
回答:XRD的原理
X射线
荧光衍射:利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分
分析
和化学态研究的方法。按激发、色散和探测方法的不同,分为X射线光谱法(波长色散)和X射线能
谱
法(能量色散)。 当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发使原子内...
EMPA电子显微探针
分析
答:
能够精确选择和定位
分析
点,提高X射线信号强度。在
X射线谱
仪部分,电子束撞击样品表面产生的特征X射线,通过鉴别其波长或能量,能够确定样本中的元素种类。WDS和EDS分别根据特定的信号位置进行点分析,通过直线扫描获取元素沿直线的浓度分布;面分析则通过二维光栅扫描,展示元素在样品表面的面分布图像。
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