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x射线谱图分析注意事项
测试表征系列 | 手把手教学
X射线
能
谱
(EDX),全篇重点,速收藏
答:
7. EDX分析的科学原理 定性
分析
依赖于元素特征
X射线的
频率,而定量分析则涉及净强度处理和基体修正,确保结果的准确性。8. 实战应用与
注意事项
点分析揭示微结构成分,选取合适区域并关注干扰因素至关重要。面分析则直观呈现元素分布,需结合形貌图、
谱图
和扫描信息解读。务必注意轻元素测量误差,以及可能的...
怎么
分析
通过XRD测结晶度的
谱图
?
答:
分析
方法:已知波长的X射线来测量θ角,从而计算出晶面间距d,这是用于X射线结构分析;另一个是应用已知d的晶体来测量θ角,从而计算出特征
X射线的
波长,进而可在已有资料查出试样中所含的元素。分析晶体衍射基础的公式是布拉格定律:2d sinθ=nλ,式中λ为X射线的波长,n为任何正整数,又称衍射级数...
如何对
x射线图
进行物相
分析
,请写出详细步骤
答:
晶体的
X射线
衍射图像实质上是晶体微观结构的一种精细复杂的变换,每种晶体的结构与其X射线衍射图之间都有着一一对应的关系,其特征X射线衍射图谱不会因为它种物质混聚在一起而产生变化,这就是X射线衍射物相
分析
方法的依据.制备各种标准单相物质的衍射花样并使之规范化,将待分析物质的衍射花样与之对照,从而...
如何对
x射线图
进行物相
分析
方法
答:
晶体的
X射线
衍射图像实质上是晶体微观结构的一种精细复杂的变换,每种晶体的结构与其X射线衍射图之间都有着一一对应的关系,其特征X射线衍射图谱不会因为它种物质混聚在一起而产生变化,这就是X射线衍射物相
分析
方法的依据.制备各种标准单相物质的衍射花样并使之规范化,将待分析物质的衍射花样与之对照,从而...
什么是特征
X射线谱
答:
高速电子撞击材料后,材料内层电子形成空位,外层电子向空位跃迁会辐射x射线。不同材料x射线波长不同,所以叫特征x射线。特征
X射线谱
又称标识射线谱,具有特定的波长,且波长取决于阳极靶元素的原子序数。只有当管压超过某一特定值时才能产生特征X射线。特征X射线谱是叠加在连续X射线谱上的。
x射线
衍射图谱怎么
分析
答:
X射线
粉末衍射图谱和数据,怎样
分析
?例如,一个XRD
谱图
数据如下:2-Theta d(Å) BG Height Height% Area Area% FWHM XS(Å)13.583 6.5135 8 110 33.0 26.8 38.2 0.207 639 19.136 4.6342 4 24 7.2 5....
EDS的
谱图
怎么
分析
啊?
答:
5、答案:EDS测薄膜成分是一种常用的薄膜表征手段,通过在薄膜表面扫描电子显微镜下利用电子束激发薄膜表面原子,同时测量被激发原子所发出的特征
X射线
能
谱图
,从而得到薄膜元素成分及其相对含量的
分析
方法。6、不是都出来了吗?氧的Ka(alpha)线,Al的Ka(alpha)线,Pt的La(alpha)线都有了,含量也有了。
EDS的
谱图
怎么
分析
啊?
答:
5、答案:EDS测薄膜成分是一种常用的薄膜表征手段,通过在薄膜表面扫描电子显微镜下利用电子束激发薄膜表面原子,同时测量被激发原子所发出的特征
X射线
能
谱图
,从而得到薄膜元素成分及其相对含量的
分析
方法。6、不是都出来了吗?氧的Ka(alpha)线,Al的Ka(alpha)线,Pt的La(alpha)线都有了,含量也有了。
请教EDS的
谱图
怎么
分析
?
答:
5、答案:EDS测薄膜成分是一种常用的薄膜表征手段,通过在薄膜表面扫描电子显微镜下利用电子束激发薄膜表面原子,同时测量被激发原子所发出的特征
X射线
能
谱图
,从而得到薄膜元素成分及其相对含量的
分析
方法。6、不是都出来了吗?氧的Ka(alpha)线,Al的Ka(alpha)线,Pt的La(alpha)线都有了,含量也有了。
EDS的
分析谱图
怎么看?
答:
5、答案:EDS测薄膜成分是一种常用的薄膜表征手段,通过在薄膜表面扫描电子显微镜下利用电子束激发薄膜表面原子,同时测量被激发原子所发出的特征
X射线
能
谱图
,从而得到薄膜元素成分及其相对含量的
分析
方法。6、不是都出来了吗?氧的Ka(alpha)线,Al的Ka(alpha)线,Pt的La(alpha)线都有了,含量也有了。
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