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背散射电子像的特点和应用
二次电子像
背散射电子像和
吸收
电子像的特点和
用途
答:
背散射电子像
具有分辩率低、背散射电子检测效率低,衬度小
的特点
,主要用于反映原子序数衬度。
电镜分析中
电子
成像的原理是什么?
答:
1)背散射电子:能量高
;来自样品表面几百nm深度范围;其产额随原子序数增大而增多.用作形貌分析、成分分析以及结构分析。2)二次电子:能量较低;来自表层5—10nm深度范围;对样品表面化状态十分敏感。 不能进行成分分析.主要用于分析样品表面形貌。3)吸收电子:其衬度恰好和SE或BE信号调制图像衬度相反;与...
扫描电镜
背散射电子
图像怎么分析
答:
背散射电子像主要反映样品表面元素分布情况,越亮的区域,原子序数越高
。第二、
看表面形貌
,电子成像,亮的区域高,暗的区域低。非常薄的薄膜,背散射电子会造成假像。导电性差时,电子积聚也会造成假像。
二次电子像
和背散射电子像有什么
不同?
答:
1、性质不同:二次电子像是以入射方向逸出样品的电子
。背散射电子像是在扫描电子显微镜中,通过电子枪产生的电子,经过加速磁场、偏转磁场后,照射到待检测的样品表面,待检测样品会反射一部分的电子。2、特点不同:在扫描电子显微镜的工作镜腔里的背散射电子探头就会检测到这些被反射的电子,进而在检测器...
背散射电子像
简介
答:
电子密度和原子间距离等因素密切相关。因此,
背散射电子像在材料科学、生物学、地质学等领域中,被广泛用于微观结构分析和成分鉴定
。总的来说,背散射电子像是通过电子显微镜观察样品内部结构和性质的重要手段,它揭示了样品微观层面的复杂信息,为科学研究提供了宝贵的直观证据。
电子
显微镜成像原理
有什么
异同点?
答:
背散射电子的
能量和角度与样品的化学组成密切相关,因此它主要反映了样品中参数原子和其它表面分子的组成、分布和厚度信息。2.成像效果不同 二次
电子像
可以提供较高的表面解析度和形貌信息,在探测表面微观形貌方面具有独特的优势。但它对样品的表面细节敏感,因此不适用于考察样品内部结构和化学成份等信息。...
背散射电子的
相关介绍
答:
背散射电子
成像(Back scattered Electron Imaging,简称BSE)是依托扫描电镜的一种电子成像技术,它的成像原理和
特点
非常适合用来研究那些表皮尚存的各类笔石标本,是二次电子成像(SEM)无法替代的。当前BSE图象显示了许多以往其他途径无法观察到的笔石微细结构,特别是笔石复杂的始端发育
特征
,结果验证了Psig...
背散射电子的
概述
答:
并将重新从样品表面逸出。那么
背散射电子
就是由样品反射出来的初次电子,其主要
特点
是: 能量很高,有相当部分接近入射电子能量 E 0 ,在试样中产生的范围大,
像的
分辨率低。 背散射电子发射系数 η =I B /I 0 随原子序数增大而增大。 作用体积随入射束能量增加而增大,但发射系数变化不大。
二次电子像
与背散射电子像有什么
区别吗?
答:
背散射电子像则具有较低的分辨率,其主要
特点
是背散射电子产额随原子序数增大而明显增加,因此可以用来观察样品表面不同成分分布情况,如有机无机混合物、合金等。背散射电子由于能量较高,穿透能力较强,能够从样品中较深的区域逸出,可以提供一些深度信息。但是,
背散射电子像的
衬度较大,会掩盖一些细节...
利用扫描电镜分析时二次
电子与
被
散射的
区别。
答:
背散射电子像
(不严格地俗称“成份像”或“原子序数像”)背散射电子是由样品“反射”出来的入射电子,其主要
特点
是:(1)能量高,从50eV到接近入射电子的能量。(2)穿透能力比二次电子强得多,可从样品中较深的区域逸出(微米级),在这样的深度范围,入射电子已有相当宽的侧向扩展,因此在样品中产生的...
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