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电子束与固体样品
电子束与固体样品
作用时产生的信号。包括哪些?
答:
电子束与固体样品
作用时产生的信号。它包括:背散射电子、二次电子、吸收电子、透射电子、特征x射线、俄歇电子。除了以上六种信号外,固体样品中还会产生例如阴极荧光、电子束感生效应等信号,经过调制后也可以用于专门的分析。背散射电子(BSE) 背散射电子是被固体样品中的原子核反弹回来的一部分人射电子...
电子束与固体
试样相互作用产生的物理信号可用于表层分析的有哪些_百度...
答:
电子束与固体
试样相互作用时,高能电子束打击在
样品
表面,产生直接反射的背射电子,打到样品内部会激发样品表面的二次电子,俄歇电子和存在元素的特征X射线。这些产生于样品表面深度不同的信息,都可以用来做样品的表层分析。可以参考图来理解上述的内容。
电子束
入射
固体样品
表面激发的信号是什么?
答:
电子束
入射
固体样品
表面激发的信号是:特征X射线、二次电子、吸收电子、透射电子、背散射电子、俄歇电子。原子中核外电子对入射电子的散射作用毕迟是属于非弹性散射过程。在散射过程中入射电子所损失的能量部分转变为热,部分使物质中原子发生电离或形成自由载流子(在半导体情况下),并伴随着产生各种有用信...
电子束
束入射
固体样品
表面会激发哪些信号?它们有哪些特点和用途
答:
背散射电子:入射电子被
固体样品
原子核反弹回来的一部分入射电子。来自样品表层几百纳米的深度范围,它的产额随着原子序数的增大而增大,因此既可以做成分分析,也可以做形貌分析,但分辨率较低,约50-200nm。二次电子:入射
电子束
将原子核外电子撞击,使其脱离轨道并离开样品表面。一般在表层5-10nm激发出来...
电子
线与物质的主要作用方式是什么?
答:
电子运动的轨迹更容易偏离起始方向,在
固体
中的穿透深度也随之减少; 低原子序数
样品
:电子偏离原方向的程度较小,穿透得较深; 形状明显地随原子序数而改变,从低原子序数的梨型(滴状)变为高原子序数的近似半球型。 * 三、
电子束与
物质的相互作用区 3.2 入射电子能量的影响 对于同一物质的样品,...
电子束
X射线微区分析
答:
电子束
X射线微区分析(electron beam X-ray microanalysis),简称X射线微区分析,它是利用高能量的电子束入射在
固体样品
表面,激发出特征X射线,从而测定样品微区元素成分的一种分析方法。目前在X射线微区分析中使用较广的是电子探针和X射线能谱仪。电子探针微区分析仪(Electron Probe Microanalyzer,...
扫描
电子
显微镜
答:
扫描电子显微镜,简称扫描电镜,英文名为Scanning Electron Microscope,缩写为SEM,是利用高能量的
电子束
在
固体样品
表面扫描,激发出二次电子、背散射电子、X射线等物理信号,从而获得样品表面图像及测定元素成分的一种电子光学仪器。扫描电镜,按其功能划分,由电子光学系统、信号检测和放大系统、扫描系统、图像...
扫描
电子
显微镜
答:
扫描电子显微镜,简称扫描电镜,英文名为Scanning Electron Microscope,缩写为SEM,是利用高能量的
电子束
在
固体样品
表面扫描,激发出二次电子、背散射电子、X射线等物理信号,从而获得样品表面图像及测定元素成分的一种电子光学仪器。扫描电镜,按其功能划分,由电子光学系统、信号检测和放大系统、扫描系统、图像...
扫描
电子
显微镜观察范围
答:
扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)是一种先进的电子光学仪器,它通过发射高能
电子束
并在
固体样品
表面进行扫描,激发出二次电子、背散射电子和X射线等信号,以此来获取样品的表面图像和元素成分信息。SEM的结构主要包括电子光学系统、信号检测与放大系统、扫描系统、图像显示与记录系统、真空...
SEM扫描电镜测试的原理与
样品
制备
答:
SEM的核心构造包括精密的电子光学系统,如电子枪、透镜和扫描线圈,以及信号收集显示、真空和电源系统,共同构建出强大而精密的观察平台(见表1)。工作魔术:
电子束
的魔法之旅 SEM的工作原理如同魔术师的手法,电子束在
样品
表面缓缓游走,逐点扫描,释放出宝贵的二次电子和背散射电子。这些信息被转化为可视...
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